home *** CD-ROM | disk | FTP | other *** search
/ InfoMagic Standards 1994 January / InfoMagic Standards - January 1994.iso / ccitt / 1988 / troff / 4_4_01.tro < prev    next >
Text File  |  1991-12-13  |  47KB  |  1,751 lines
  1. .rs
  2. .\" Troff code generated by TPS Convert from ITU Original Files
  3. .\"                 Not Copyright ( c) 1991 
  4. .\"
  5. .\" Assumes tbl, eqn, MS macros, and lots of luck.
  6. .TA 1c 2c 3c 4c 5c 6c 7c 8c
  7. .ds CH
  8. .ds CF
  9. .EQ
  10. delim @@
  11. .EN
  12. .nr LL 40.5P
  13. .nr ll 40.5P
  14. .nr HM 3P
  15. .nr FM 6P
  16. .nr PO 4P
  17. .nr PD 9p
  18. .po 4P
  19.  
  20. .rs
  21. \v | 5i'
  22. .sp 1P
  23. .ce 1000
  24. \v'12P'
  25. \s12PART\ I
  26. \v'4P'
  27. .RT
  28. .ce 0
  29. .sp 1P
  30. .ce 1000
  31. \fBSeries O Recommendations\fR \v'2P'
  32. .EF '%     \ \ \ ^''
  33. .OF ''' \ \ \ ^    %'
  34. .ce 0
  35. .sp 1P
  36. .ce 1000
  37. \fBSPECIFICATIONS\ FOR\ MEASURING\ EQUIPMENT\fR 
  38. .ce 0
  39. .sp 1P
  40. .LP
  41. .rs
  42. .sp 32P
  43. .ad r
  44. Blanc
  45. .EF '%     \ \ \ ^''
  46. .OF ''' \ \ \ ^    %'
  47. .ad b
  48. .RT
  49. .LP
  50. .bp
  51. .LP
  52. \fBMONTAGE:\fR \ PAGE 2 = PAGE BLANCHE
  53. .sp 1P
  54. .RT
  55. .LP
  56. .bp
  57. .sp 1P
  58. .ce 1000
  59. \v'3P'
  60. SECTION\ 1
  61. .ce 0
  62. .sp 1P
  63. .ce 1000
  64. \fBGENERAL\fR 
  65. .ce 0
  66. .sp 1P
  67. .sp 2P
  68. .LP
  69. \fBRecommendation\ O.1\fR 
  70. .RT
  71. .sp 2P
  72. .sp 1P
  73. .ce 1000
  74. \fBSCOPE\ AND\ APPLICATION\ OF\ SERIES\ O\ RECOMMENDATIONS\fR 
  75. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.1''
  76. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.1    %'
  77. .ce 0
  78. .sp 1P
  79. .ce 1000
  80. \fI(Melbourne, 1988)\fR 
  81. .sp 9p
  82. .RT
  83. .ce 0
  84. .sp 1P
  85. .LP
  86. \fB1\fR     \fBScope of Series O Recommendations\fR 
  87. .sp 1P
  88. .RT
  89. .PP
  90. The CCITT establishes various Recommendations covering:
  91. .RT
  92. .LP
  93.     a)
  94.     essential specifications for telecommunications equipments,
  95. and
  96. .LP
  97.     b)
  98.     operational matters, e.g. procedures for bringing circuits
  99. into service and routing checks of performance.
  100. .PP
  101. The type of tests for checking compliance with these two
  102. categories of Recommendations are essentially different, and this often 
  103. leads to a different choice of test equipment. 
  104. .PP
  105. Category a) tests will normally be more comprehensive. Their purpose (often 
  106. based upon measurements of sample or prototype equipments) is to certify 
  107. compliance with design objectives and they may therefore be a prerequisite 
  108. to equipment being accepted for installation in an Administration's network. 
  109. Such tests are unlikely to be employed routinely and in general CCITT does 
  110. not 
  111. produce Recommendations for test equipment intended specifically for this
  112. purpose.
  113. .PP
  114. Category b) tests, however, are used systematically and repetitively and 
  115. their widespread application may necessitate additional considerations, 
  116. in particular the need for: 
  117. .RT
  118. .LP
  119.     1)
  120.     conformity of results when tests may be performed using test
  121. equipment supplied by more than one manufacturer, and
  122. .LP
  123.     2)
  124.     a common measurement technique to ensure compatibility when
  125. a test requires test equipment at both ends of an international
  126. circuit.
  127. .PP
  128. It is primarily for these circumstances that CCITT issues the
  129. Series O\ Recommendations.
  130. .PP
  131. The above remarks apply quality to analogue and digital
  132. techniques.
  133. .RT
  134. .sp 2P
  135. .LP
  136. \fB2\fR \fBApplication of measuring equipment for use on digital transmission 
  137. systems\fR 
  138. .sp 1P
  139. .RT
  140. .PP
  141. This section is presented as an aid to selecting and applying
  142. specifications in the Series O\ Recommendations concerning test and measuring
  143. equipment for use on primary PCM and data multiplexers and digital transmission 
  144. systems. 
  145. .PP
  146. Applications are divided into two categories:
  147. .RT
  148. .LP
  149.     a)
  150.     measurements and indications on primary PCM
  151. multiplexers;
  152. .LP
  153.     b)
  154.     measurements and indications on digital transmission
  155. systems
  156. including digital line systems, digital circuits and
  157. digital multiplexers.
  158. .bp
  159. .PP
  160. Figures 1/O.1 and 2/O.1 illustrate the range of test and
  161. measurement capabilities applicable to primary PCM multiplexers, in the send
  162. and receive directions, respectively.
  163. .PP
  164. Tables 1/O.1 and 2/O.1 illustrate the range of test and measurement
  165. capabilities applicable to digital transmission systems.
  166. .PP
  167. The figures indicate the relevant Series O Recommendations to be
  168. applied for each test and measurement parameter, and also show the connection 
  169. interface for the test instrument. 
  170. .PP
  171. \fIExample\fR :
  172. .PP
  173. To measure quantising distortion on a primary PCM multiplexer:
  174. .PP
  175. Figure 1/O.1 shows that instruments conforming to
  176. Recommendations\ O.131 and\ O.132 can be employed, connected to the audio 
  177. input interface of the send encoder. 
  178. .PP
  179. Figure 2/O.1 shows that similar instruments are connected to the audio 
  180. output interface of the receive decoder to complete the measurement path. 
  181. .RT
  182. .LP
  183. .rs
  184. .sp 40P
  185. .ad r
  186. \fBFigure 1/O.1, p. 1\fR 
  187. .sp 1P
  188. .RT
  189. .ad b
  190. .RT
  191. .LP
  192. .bp
  193. .LP
  194. .rs
  195. .sp 30P
  196. .ad r
  197. \fBFigure 2/O.1, p. 2\fR 
  198. .sp 1P
  199. .RT
  200. .ad b
  201. .RT
  202. .ce
  203. \fBH.T. [T1.1]\fR 
  204. .ce
  205. TABLE\ 1/O.1
  206. .ce
  207. \fBList of tests and measurements applicable to digital
  208. .ce
  209. \fBtransmission systems in the send direction\fR 
  210. .ps 9
  211. .vs 11
  212. .nr VS 11
  213. .nr PS 9
  214. .TS
  215. center box;
  216. cw(54p) | lw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  217. System hierarchical   level        First order    Second order    Third order    Fourth order
  218. _
  219. .T&
  220. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  221. Bit rate    . . 64 kbit/s    . 1544 2048 kbit/s    . 6312 8448 kbit/s     {
  222. 32 | 64
  223. 34 | 68
  224. 44 | 36
  225. kbit/s
  226.  }    . . 139.264 Mbit/s
  227. _
  228. .T&
  229. cw(54p) | cw(174p) .
  230. Parameter    Recommendation
  231. _
  232. .T&
  233. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  234. Error performance    O.152    O.151    O.151    O.151    O.151
  235. _
  236. .T&
  237. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  238. Timing jitter    O.171    O.171    O.171    O.171    O.171
  239. _
  240. .TE
  241. .nr PS 9
  242. .RT
  243. .ad r
  244. \fBTableau 1/O.1 [T1.1], p. 3\fR 
  245. .sp 1P
  246. .RT
  247. .ad b
  248. .RT
  249. .LP
  250. .bp
  251. .ce
  252. \fBH.T. [T2.1]\fR 
  253. .ce
  254. TABLE\ 2/O.1
  255. .ce
  256. \fBList of tests and measurements applicable to digital
  257. .ce
  258. \fBtransmission systems in the receive direction\fR 
  259. .ps 9
  260. .vs 11
  261. .nr VS 11
  262. .nr PS 9
  263. .TS
  264. center box;
  265. cw(54p) | lw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  266. System hierarchical  level        First order    Second order    Third order    Fourth order
  267. _
  268. .T&
  269. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  270. Bit rate    . . 64 kbit/s    . 1544 2048 kbit/s    . 6312 8448 kbit/s     {
  271. 32 | 64
  272. 34 | 68
  273. 44 | 36
  274. kbit/s
  275.  }    . . 139.264 Mbit/s
  276. _
  277. .T&
  278. cw(54p) | cw(174p) .
  279. Parameter    Recommendation
  280. _
  281. .T&
  282. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  283. Error performance    O.152    O.151    O.151    O.151    O.151
  284. _
  285. .T&
  286. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  287. Code violations        O.161    O.161        
  288. _
  289. .T&
  290. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  291.  {
  292. Frame alignment 
  293. Signal monitor
  294.  }        O.162  (2 Mbit/s)            
  295. _
  296. .T&
  297. lw(54p) | cw(30p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) | cw(36p) .
  298. Timing jitter    O.171    O.171    O.171    O.171    O.171
  299. _
  300. .TE
  301. .nr PS 9
  302. .RT
  303. .ad r
  304. \fBTableau 2/O.1 [T2.1], p. 4\fR 
  305. .sp 1P
  306. .RT
  307. .ad b
  308. .RT
  309. .sp 2P
  310. .LP
  311. \fB3\fR \fBApplication of measuring equipment for use on analogue transmission 
  312. systems\fR 
  313. .sp 1P
  314. .RT
  315. .PP
  316. Under study.
  317. .RT
  318. .sp 2P
  319. .LP
  320.     \fBReferences\fR 
  321. .sp 1P
  322. .RT
  323. .LP
  324. [1]
  325.      CCITT Recommendation \fICharacteristics of 60\(hychannel transmultiplexing\fR 
  326. \fIequipments\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.793. 
  327. .LP
  328. [2]
  329.      CCITT Recommendation \fICharacteristics of 24\(hychannel transmultiplexing\fR 
  330. \fIequipments\fR , Vol.\ III, Rec.\ G.794. 
  331. \v'6p'
  332. .sp 2P
  333. .LP
  334. \fBRecommendation\ O.3\fR 
  335. .RT
  336. .sp 2P
  337. .sp 1P
  338. .ce 1000
  339. \fBCLIMATIC\ CONDITIONS\ AND\ RELEVANT\ TESTS\ FOR\ MEASURING\ EQUIPMENT\fR 
  340. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.3''
  341. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.3    %'
  342. .ce 0
  343. .sp 1P
  344. .ce 1000
  345. \fI(Melbourne, 1988)\fR 
  346. .sp 9p
  347. .RT
  348. .ce 0
  349. .sp 1P
  350. .LP
  351. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  352. .sp 1P
  353. .RT
  354. .PP
  355. The Recommendations of the Series O specify measuring equipment for a wide 
  356. range of applications. Reliable test equipment is an important 
  357. prerequisite when maintaining telecommunication equipment and telecommunication 
  358. networks. The reliability of measuring equipment can be affected by the 
  359. environmental conditions to which the equipment is exposed to during its use.
  360. .PP
  361. This Recommendation gives a range of climatic conditions for the
  362. operation of measuring equipment specified in the Series O\ Recommendations. 
  363. In addition, climatic conditions for transportation and storage of measuring 
  364. equipment are defined.
  365. .bp
  366. .PP
  367. In order to be able to prove that the requirements of this
  368. Recommendation are fulfilled, test conditions simulating the various
  369. environmental parameters are specified.
  370. .PP
  371. Where possible, this Recommendation is based on standards produced by other 
  372. bodies such as the international electrotechnical commission 
  373. (IEC)\ [1]; (CEPT)\ [2].
  374. .RT
  375. .sp 2P
  376. .LP
  377. \fB2\fR     \fBClimatic conditions for the operation of measuring equipment\fR 
  378. .sp 1P
  379. .RT
  380. .sp 1P
  381. .LP
  382. 2.1
  383.     \fIOperation in indoor rooms\fR 
  384. .sp 9p
  385. .RT
  386. .PP
  387. Considering that measuring equipment will be used in most of the
  388. cases in weather\(hyprotected locations, the normal operating conditions 
  389. specified in Figure\ 1/O.3 define the range of climatic conditions under 
  390. which the 
  391. equipment specifications shall be met. These conditions may be found in 
  392. normal working areas, offices, telecommunication centres or storage rooms 
  393. for 
  394. sensitive products,\ etc.
  395. .PP
  396. The normal operating conditions are maintained by heating, cooling
  397. and, where necessary, by forced ventilation. Humidity may normally not be
  398. controlled.
  399. .PP
  400. Figure 1/O.3 implies that the measuring equipment is usually operated at 
  401. a temperature of approximately 25\(de |  at a relative humidity of 45%. 
  402. .PP
  403. The dotted field in the centre of the climatogram of Figure\ 1/O.3
  404. specifies the climatic conditions which will be experienced during 90% 
  405. of the time. 
  406. .PP
  407. The exceptional operating conditions shown in Figure 1/O.3 may exist, e.g.\ 
  408. following failure of the climate controlling system. Under these 
  409. conditions the measuring equipment shall still operate without irreversible
  410. faults. However, the measurement may be less accurate.
  411. .PP
  412. In some instances the measuring equipment may be exposed to solar
  413. radiation and to heat radiation from other sources (e.g.\ from room heating).
  414. Direct solar radiation should be avoided and the temperature in the vicinity 
  415. of the equipment shall not exceed the limits of Figure\ 1/O.3 
  416. .PP
  417. The equipment may also be exposed to movements of the surrounding air due 
  418. to draughts in buildings (e.g.\ through open windows). It shall not be 
  419. subjected to condensation or precipitation.
  420. .RT
  421. .LP
  422. .rs
  423. .sp 25P
  424. .ad r
  425. \fBFigure 1/O.3, p.\fR 
  426. .sp 1P
  427. .RT
  428. .ad b
  429. .RT
  430. .LP
  431. .bp
  432. .sp 1P
  433. .LP
  434. 2.2
  435.     \fIOperation of measuring equipment in other environments\fR 
  436. .sp 9p
  437. .RT
  438. .PP
  439. Under study.
  440. .RT
  441. .sp 2P
  442. .LP
  443. \fB3\fR     \fBTransportation and storage\fR 
  444. .sp 1P
  445. .RT
  446. .PP
  447. During transportation and storage the measuring equipment shall
  448. tolerate temperatures between \(em40 | (deC and +70 | (deC without irreversible 
  449. failure. For relative humidities higher than 45% and temperatures higher 
  450. than 25 | (deC the limits of the climatogram of Figure\ 1/O.3 shall not 
  451. be exceeded for any 
  452. humidity/temperature combination. In this case the (uninterrupted) exposure
  453. time is limited to 2\ months.
  454. .PP
  455. \fINote\ 1\fR \ \(em\ It is assumed that the measuring equipment is packed 
  456. in its usual shipping container and that the ambient conditions mentioned 
  457. above are 
  458. those outside the package.
  459. .PP
  460. \fINote\ 2\fR \ \(em\ This requirement is provisional and requires further
  461. study.
  462. .RT
  463. .sp 2P
  464. .LP
  465. \fB4\fR     \fBTest conditions\fR 
  466. .sp 1P
  467. .RT
  468. .sp 1P
  469. .LP
  470. 4.1
  471.     \fITesting conditions for indoor climates\fR 
  472. .sp 9p
  473. .RT
  474. .PP
  475. It is assumed that the measuring equipment meets the requirements of \(sc\ 
  476. 2.1 if it tolerates the basic environmental testing procedures in 
  477. accordance with IEC Publication 68\(hy2\(hy3\ [3].
  478. .PP
  479. During these testing procedures, the mesuring equipment shall be
  480. placed in the testing chamber for 4\ days. After a recovery time of 2\ 
  481. hours the test specimen shall properly function and the specified error 
  482. limits shall not be exceeded. 
  483. .PP
  484. \fINote\fR \ \(em\ This requirement is provisional and requires further
  485. study.
  486. .RT
  487. .sp 1P
  488. .LP
  489. 4.2
  490.     \fITesting conditions for other environments\fR 
  491. .sp 9p
  492. .RT
  493. .PP
  494. Under study.
  495. .RT
  496. .sp 2P
  497. .LP
  498.     \fBReferences\fR 
  499. .sp 1P
  500. .RT
  501. .LP
  502. [1]
  503.     IEC Publication 731\(hy3 \fIClassification of Groups of Environmental\fR 
  504. \fIParameters and their Severities\fR .
  505. .LP
  506.     IEC\(hyPublication 721\(hy3\(hy3 \fIStationary Use at Weather\(hyProtected\fR 
  507. \fILocations\fR .
  508. .LP
  509. [2]
  510.     CEPT Recommendation T/TRw, Part B\(hy3 \fIEnvironmental Conditions and\fR 
  511. \fIEnvironmental Tests for Telecommunications Equipment\fR . (October\ 1987).
  512. .LP
  513. [3]
  514.     IEC\(hyPublication 68\(hy2\(hy3 \fIBasic Environmental Testing Procedures.\fR 
  515. \fIPart\ 2: Test Ca: Damp heat, steady state\fR .
  516. .sp 2P
  517. .LP
  518. \fBRecommendation\ O.6\fR 
  519. .RT
  520. .sp 2P
  521. .sp 1P
  522. .ce 1000
  523. \fB1020\ Hz\ REFERENCE\ TEST\ FREQUENCY\fR 
  524. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.6''
  525. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.6    %'
  526. .ce 0
  527. .sp 1P
  528. .ce 1000
  529. \fI(Melbourne, 1988)\fR 
  530. .sp 9p
  531. .RT
  532. .ce 0
  533. .sp 1P
  534. .LP
  535. \fB1\fR     \fBIntroduction\fR 
  536. .sp 1P
  537. .RT
  538. .PP
  539. The intent of this Recommendation is to specify a single nominal
  540. reference frequeny of 1020\ Hz in order to provide guidance to manufacturers 
  541. and Administrations in the design and operation of new equipment and systems. 
  542. This Recommendation is not intended to have an effect on existing equipment 
  543. or 
  544. systems except where modifications are required to allow for interworking. 
  545. For instance, an older analogue exchange would need to be provided with 
  546. new 
  547. reference frequency capability if circuits were provided between it and 
  548. digital exchanges. 
  549. .RT
  550. .sp 2P
  551. .LP
  552. \fB2\fR     \fBTest frequencies on circuits routed over PCM systems\fR 
  553. .sp 1P
  554. .RT
  555. .PP
  556. The selection of a suitable test frequency is a major consideration when 
  557. testing circuits routed over PCM systems. An error in level measurement 
  558. can arise on circuits routed over PCM systems if the test frequency is a
  559. sub\(hymultiple of the PCM sampling rate. This error can be nearly as great as
  560. \(+- | .15\ dB at 800\ Hz and \(+- | .20\ dB at 1000\ Hz with a sampling 
  561. rate of 8000\ Hz 
  562. employing 8\(hybit coding. In addition, errors in other parameters, such 
  563. as total distortion, may be even more significant. 
  564. .bp
  565. .PP
  566. Therefore, it is recommended that the use of a reference test
  567. frequency that is a sub\(hymultiple of the PCM sampling rate should be avoided.
  568. Studies within CCITT reveal that some Administrations have employed nominal
  569. reference test frequencies offset from 800\ Hz or 1000\ Hz by varying amount 
  570. but within the ranges 804\(hy860\ Hz or 1004\(hy1020\ Hz. These studies 
  571. have confirmed that where interworking is not required, no significant 
  572. problems in maintenance have been encountered by Administrations and existing 
  573. test procedures and equipment may continue to be used. 
  574. .PP
  575. In the case of interworking and for new equipment and systems, the
  576. Administrations expressed a strong preference for the selection of a reference 
  577. test frequency of 1020\ Hz. 
  578. .RT
  579. .sp 2P
  580. .LP
  581. \fB3\fR     \fBConsiderations for new measuring equipment specifications\fR 
  582. .sp 1P
  583. .RT
  584. .PP
  585. The following should be considered for new measuring equipment
  586. specifications in the Series O\ Recommendations:
  587. .RT
  588. .LP
  589.     i)
  590.     A reference test frequency of 1020 Hz is recommended for
  591. test frequency generating circuits or instruments that provide
  592. reference test frequencies. The specified frequency tolerance
  593. should be +2 to \(em7\ Hz
  594. .FS
  595. The negative tolerance of 7 Hz is
  596. intended to allow the use of digitally generated test signals
  597. that are generated by a sufficiently high number of samples to
  598. achieve the measurement accuracy specified in certain Series
  599. O\ Recommendations (e.g.\ Recommendation\ O.133).
  600. .FE
  601. .
  602. .LP
  603.     ii)
  604.     The nominal level of the reference test frequency when used
  605. on in\(hyservice equipment should not be greater that \(em10\ dBm0
  606. \(+- | .1\ dB.
  607. .LP
  608.     iii)
  609.     Measuring circuits or instruments which utilize the
  610. reference test frequencies should provide, if possible, for
  611. measurements of any frequencies within the nominal range of
  612. 1000\ to 1025\ Hz.
  613. .PP
  614. By agreement between the Administrations concerned, in the absence of the 
  615. required sending or measuring apparatus, the use of a measuring 
  616. frequency in the range of 800\ to 860\ Hz is admissible. Other considerations
  617. about the deployment and use of reference test frequencies are given in
  618. Recommendation\ M.20\ [1].
  619. .sp 2P
  620. .LP
  621.     \fBReferences\fR 
  622. .sp 1P
  623. .RT
  624. .LP
  625. [1]
  626.      CCITT Recommendation \fIMaintenance philosophy for analogue, digital 
  627. and\fR \fImixed networks\fR , Volume\ IV, Recommendation\ M.20. 
  628. \v'6p'
  629. .sp 2P
  630. .LP
  631. \fBRecommendation\ O.9\fR 
  632. .RT
  633. .sp 2P
  634. .ce 1000
  635. \fBMEASURING\ ARRANGEMENTS\ TO\ ASSESS\fR 
  636. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.9''
  637. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.9    %'
  638. .ce 0
  639. .sp 1P
  640. .ce 1000
  641. \fBTHE\ DEGREE\ OF\ UNBALANCE\ ABOUT\ EARTH\fR 
  642. .ce 0
  643. .sp 1P
  644. .ce 1000
  645. \fI(Geneva, 1972; amended at Malaga\(hyTorremolinos, 1984, and at Melbourne,\fR 
  646. \fI1988)\fR 
  647. .sp 9p
  648. .RT
  649. .ce 0
  650. .sp 1P
  651. .LP
  652. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  653. .sp 1P
  654. .RT
  655. .PP
  656. This Recommendation describes arrangements for measuring the
  657. following parameters:
  658. .RT
  659. .LP
  660.     \(em
  661.     longitudinal conversion loss;
  662. .LP
  663.     \(em
  664.     transverse conversion loss;
  665. .LP
  666.     \(em
  667.     longitudinal conversion transfer loss;
  668. .LP
  669.     \(em
  670.     transverse conversion transfer loss;
  671. .LP
  672.     \(em
  673.     input longitudinal interference loss;
  674. .LP
  675.     \(em
  676.     common\(hymode rejection;
  677. .LP
  678.     \(em
  679.     output signal balance.
  680. .PP
  681. In practice, the above parameters are the seven most significant
  682. unbalance parameters
  683. . Limits for these parameters, special
  684. considerations for test terminations and the measurement frequencies to 
  685. be used are given in the relevant Recommendation for the item under test. 
  686. .bp
  687. .PP
  688. This Recommendation is in agreement with the principles, the
  689. nomenclature and the definitions, addressed in Recommendation\ G.117\ [1], 
  690. which considers the transmission aspects of unbalance about earth. References 
  691. are 
  692. made in the following sections, to the appropriate paragraphs/figures of
  693. Recommendation\ G.117\ [1].
  694. .PP
  695. In \(sc 3, guidance is given regarding the construction of a test bridge 
  696. along with values of the required components. 
  697. .RT
  698. .sp 2P
  699. .LP
  700. \fB2\fR     \fBMeasuring arrangements\fR 
  701. .sp 1P
  702. .RT
  703. .sp 1P
  704. .LP
  705. 2.1
  706.     \fILongitudinal conversion loss (LCL)\fR 
  707. .sp 9p
  708. .RT
  709. .PP
  710. The LCL of a one\(hy or two\(hyport network is a measure (a ratio
  711. expressed in dB) of the degree of unwanted transverse signal produced at the
  712. terminals of the network due to the presence of a longitudinal signal on the
  713. connecting leads. It is measured as shown in Figure\ 1/O.9. This technique is
  714. applicable to either the input or output terminals, e.g.,\ transpose terminals\ 
  715. a and\ b with\ d and\ e respectively. (See \(sc\ 4.1.3 of 
  716. Recommendation\ G.117\ [1].)
  717. .RT
  718. .LP
  719. .rs
  720. .sp 20P
  721. .ad r
  722. \fBFigure 1/O.9, p.\fR 
  723. .sp 1P
  724. .RT
  725. .ad b
  726. .RT
  727. .sp 1P
  728. .LP
  729. 2.2
  730.     \fITransverse conversion loss (TCL)\fR 
  731. .sp 9p
  732. .RT
  733. .PP
  734. The TCL of a one\(hy or two\(hyport network is a measure (a ratio
  735. expressed in\ dB) of the degree of unwanted longitudinal signal produced 
  736. at the input (or output) of a network due to the presence of a transverse 
  737. signal at 
  738. the same port. TCL is measured as shown in Figure\ 2/O.9 (see \(sc\ 4.1.2 of
  739. Recommendation\ G.117\ [1]).
  740. .RT
  741. .sp 1P
  742. .LP
  743. 2.3
  744.     \fB\fILongitudinal conversion transfer loss (LCTL)\fR 
  745. .sp 9p
  746. .RT
  747. .PP
  748. The LCTL is a measure (a ratio expressed in dB) of an unwanted
  749. transverse signal produced at the output of a two\(hyport network due to the
  750. presence of a longitudinal signal on the connecting leads of the input 
  751. port. It is measured as shown in Figure\ 3/O.9 (see \(sc\ 4.2.3 of 
  752. Recommendation\ G.117\ [1]).
  753. .PP
  754. If the item under test exhibits gain or loss between ports a/b and
  755. d/e, this must be taken into account when specifying LCTL. In addition 
  756. to the general requirements of \(sc\ 3, the measurement range of the test 
  757. equipment must also take into account the gain or loss of the item under 
  758. test. In addition, if the item under test performs a signal conversion 
  759. (e.g.,\ in FDM or TDM 
  760. multiplexers) then the signal measured at \fIV\fR\d\fIT\fR\\d2\umay not 
  761. be at the same frequency as that of the energizing signal designated \fIV\fR\d\fIL\fR\\d1\u. 
  762. The signal at \fIV\fR\d\fIT\fR\\d2\umay even appear in coded form as a 
  763. digital 
  764. signal. Further study is required to define these signals and their
  765. relationships.
  766. .bp
  767. .RT
  768. .LP
  769. .rs
  770. .sp 24P
  771. .ad r
  772. \fBFigure 2/O.9 and Note, p. 
  773. .sp 1P
  774. .RT
  775. .ad b
  776. .RT
  777. .LP
  778. .rs
  779. .sp 23P
  780. .ad r
  781. \fBFigure 3/O.9 and note, p.\fR 
  782. .sp 1P
  783. .RT
  784. .ad b
  785. .RT
  786. .LP
  787. .bp
  788. .sp 1P
  789. .LP
  790. 2.4
  791.     \fITransverse conversion transfer loss (TCTL)\fR 
  792. .sp 9p
  793. .RT
  794. .PP
  795. Transverse conversion transfer loss is a measure (a ratio expressed in\ 
  796. dB) of an unwanted longitudinal signal produced at the output of a two\(hyport 
  797. circuit due to the presence of a transverse signal at the input port. It 
  798. is 
  799. measured as shown in Figure\ 4/O.9. If a signal conversion is performed 
  800. by the item under test (e.g.,\ in FDM or TDM multiplexers) then the signal 
  801. measured at \fIV\fR\d\fIL\fR\\d2\umay not be at the same frequency as that 
  802. of the energizing 
  803. signal designated \fIV\fR\d\fIT\fR\\d1\u. The energizing signal may even be
  804. applied in coded form as a digital signal. Further study is required to 
  805. define these signals and their relationships (see \(sc\ 4.2.2 of 
  806. Recommendation\ G.117\ [1]).
  807. .RT
  808. .LP
  809. .rs
  810. .sp 27P
  811. .ad r
  812. \fBFigure 4/O.9, p.\fR 
  813. .sp 1P
  814. .RT
  815. .ad b
  816. .RT
  817. .sp 1P
  818. .LP
  819. 2.5
  820.     \fIInput longitudinal interference loss (ILIL)\fR 
  821. .sp 9p
  822. .RT
  823. .PP
  824. The measurement of this parameter is applicable to receiving
  825. devices (e.g.,\ amplifiers, level meters,\ etc.). ILIL is a measure (a ratio
  826. expressed in\ dB) of the sensitivity of a receiving device to longitudinal
  827. disturbances. It is measured as shown in Figure\ 5a/O.9 and\ 5b/O.9. In
  828. principle, it is similar to the longitudinal conversion loss (LCL)
  829. measurement. However, since the measurement is performed internally (using
  830. a built\(hyin indicating device) or at the output of the item under test, not
  831. only the impedance balance at port a/b, but also the effect of common\(hymode
  832. rejection is measured. (See \(sc\ 4.4.1 of Recommendation\ G.117\ [1].)
  833. .PP
  834. Measurements in accordance with Figure 5b/O.9 are also applicable to devices 
  835. which perform a signal conversion (e.g.\ VF/CF side of channel 
  836. translating equipment, A/D side of PCM multiplex equipment,\ etc. See \(sc\ 2,
  837. item\ f of Recommendation\ G.117\ [1]). In this case the measurement at the
  838. .PP
  839. output of the device under test requires an appropriate analyzer, namely a
  840. selective level meter for measurements at channel translators or a digital
  841. analyzer (see Recommendation\ O.133) for measurements at PCM\(hymultiplexers. 
  842. In 
  843. the equation
  844. in Figure\ 5b/O.9 it is assumed that\ \fIV\fR\d0\uis measured at a 0\(hydBr 
  845. point. The quantity\ \fIX\fR\d1\uis the relative level at port a/b. 
  846. .bp
  847. .RT
  848. .LP
  849. .rs
  850. .sp 47P
  851. .ad r
  852. \fBFigure 5/O.9, p.\fR 
  853. .sp 1P
  854. .RT
  855. .sp 1P
  856. .RT
  857. .ad b
  858. .RT
  859. .LP
  860. .bp
  861. .sp 1P
  862. .LP
  863. 2.6
  864.     \fICommon\(hymode rejection (CMR)\fR 
  865. .sp 9p
  866. .RT
  867. .PP
  868. Common\(hymode rejection is another measurement (a ratio expressed
  869. in\ dB) that is appropriate for receiving devices and is measured as shown in
  870. Figure\ 6/O.9. Note that in this arrangement the input terminals are
  871. short\(hycircuited and then energized (see \(sc\ 5.1 of
  872. Recommendation\ G.117\ [1]).
  873. .RT
  874. .LP
  875. .rs
  876. .sp 20P
  877. .ad r
  878. \fBFigure 6/O.9, p.\fR 
  879. .sp 1P
  880. .RT
  881. .ad b
  882. .RT
  883. .sp 1P
  884. .LP
  885. 2.7
  886.     \fIOutput signal balance (OSB)\fR 
  887. .sp 9p
  888. .RT
  889. .PP
  890. This measurement (a ratio expressed in dB) is applicable to signal outputs. 
  891. OSB is a measure of unwanted longitudinal signals at the output of 
  892. a device. It is measured as shown in Figure\ 7/O.9 (see \(sc\ 4.3.1 of
  893. Recommendation\ G.117\ [1]).
  894. .RT
  895. .LP
  896. .rs
  897. .sp 19P
  898. .ad r
  899. \fBFigure 7/O.9, p.\fR 
  900. .sp 1P
  901. .RT
  902. .ad b
  903. .RT
  904. .LP
  905. .bp
  906. .PP
  907. The signal source \fIG\fR shown in Figure\ 7/O.9 can be internal or
  908. external to the device under test. OSB measurements are also applicable to
  909. devices which perform a signal conversion (e.g.\ CF/VF side of channel
  910. translating equipment. D/A side of PCM multiplex equipment, etc. See \(sc\ 2,
  911. item\ f of Recommendation\ G.117\ [1]). In this case an appropriate external
  912. signal source, namely a signal generator for measurements at channel
  913. translators or a digital signal generator (see Recommendation\ O.133) for
  914. measurements at PCM\(hymultiplexers is required.
  915. .sp 2P
  916. .LP
  917. \fB3\fR     \fBRequirements for the measuring arrangements\fR 
  918. .sp 1P
  919. .RT
  920. .sp 1P
  921. .LP
  922. 3.1
  923.     \fIInherent balance\fR 
  924. .sp 9p
  925. .RT
  926. .PP
  927. The measuring arrangements shown in Figures\ 1/O.9 through 7/O.9
  928. include two independent impedances and a centre\(hytapped inductor arranged as
  929. indicated to yield the equivalence of two matched impedances of the
  930. value\ \fIZ\fR /2. The coil should be iron\(hycored with an accurate centre\(hytapped 
  931. connection, both the tightly coupled half windings being as symmetrical as
  932. possible. The circuits shown in Figure\ 8/O.9 are electrically equivalent and
  933. any one can be used to perform the measurements described in this
  934. Recommendation. It should be noted that in the case of option\ \fIc)\fR of
  935. Figure\ 8/O.9, the connection of point\ c to earth must be made via an
  936. impedance which is virtually zero. For very low frequencies, the
  937. arrangements\ \fIa)\fR and\ \fIb)\fR of Figure\ 8/O.9 may be unsuitable 
  938. and it may be 
  939. more convenient to use arrangement\ \fIc)\fR of Figure\ 8/O.9, with a small
  940. (e.g.,\ 1\ ohm) resistor being inserted in the longitudinal arm, so that a
  941. measure of longitudinal current can be obtained to derive the equivalent
  942. voltage across\ \fIZ\fR /4.
  943. .PP
  944. The inherent balance of any measuring arrangements must be determined and 
  945. found to be sufficiently good before a measurement is made. This may be 
  946. done by replacing the equipment being tested with a second test bridge. The
  947. inherent longitudinal conversion loss of the measuring arrangements should 
  948. be 20\ dB greater than the limit set for the item under test. This balance 
  949. should also be obtained when the connections at\ a and\ b are reversed. 
  950. This permits 
  951. an accuracy in the order of \(+-\ 1\ dB. An example of a practical test 
  952. bridge is 
  953. given in Recommendation\ G.117, Figure\ 21/G.117\ [1].
  954. .RT
  955. .LP
  956. .rs
  957. .sp 20P
  958. .ad r
  959. \fBFigure 8/O.9, p.\fR 
  960. .sp 1P
  961. .RT
  962. .ad b
  963. .RT
  964. .sp 1P
  965. .LP
  966. 3.2
  967.     \fIImpedances Z\fI\d\fIL\fR\\d\fIL\fR\\d\fI2\fR\u
  968. [garbled text] \fIZ\fR\d1\uand \fIZ\fR\d2\uare the impedances connected in parallel to 
  969. the input and/or output port respectively of the item under test. \fIZ\fR\d1\uand 
  970. \fIZ\fR\d2\uare generally within \(+-\ 25% of the nominal impedance of 
  971. the 
  972. port to which they are connected. If measurements are made via high\(hyimpedance 
  973. input ports, an additional impedance \fIZ\fR\d1\ushould be connected between 
  974. points\ a and\ b. The longitudinal impedances \fIZ\fR\d\fIL\fR\\d1\uand 
  975. \fIZ\fR\d\fIL\fR\\d2\uare nominally equal to \fIZ\fR\d1\u/4 or \fIZ\fR\d2\u/4 
  976. respectively. Different 
  977. values, however, may be used. This may be necessary to more properly simulate 
  978. operating conditions of the item under test. In such cases the value of 
  979. \fIZ\fR\d\fIL\fR\\d1\uand/or \fIZ\fR\d\fIL\fR\\d2\ushall be specified by 
  980. the Recommendation convering the item under test. 
  981. .bp
  982. .RT
  983. .sp 1P
  984. .LP
  985. 3.3
  986.     \fIMeasuring and generating the test signals\fR 
  987. .sp 9p
  988. .RT
  989. .PP
  990. The voltages \fIV\fR\d\fIL\fR\uand \fIV\fR\d\fIT\fR\uare measured with 
  991. high\(hyimpedance voltmeters, and in such a way that the balance is not 
  992. disturbed. The actual 
  993. values of the internal impedance and e.m.f. of the generator\ G are irrelevant 
  994. if \fIV\fR\d\fIL\fR\\d1\uis measured. The design of the item under test 
  995. may impose a 
  996. limit on the permissible magnitude of the longitudinal excitation.
  997. .PP
  998. When the equipment being tested as shown in Figure\ 1/O.9 is a signal generating 
  999. device, \fIV\fR\d\fIT\fR\\d1\umust be measured selectively if it is 
  1000. required to measure the longitudinal conversion loss while the signal generator 
  1001. is active. Selective measurements are also preferable when high losses 
  1002. are to be measured. 
  1003. .RT
  1004. .sp 1P
  1005. .LP
  1006. 3.4
  1007.     \fIOther considerations\fR 
  1008. .sp 9p
  1009. .RT
  1010. .PP
  1011. It may be necessary in some measurements to make provisions for
  1012. supplying a d.c.\ line holding current or a d.c.\ line current termination. In
  1013. these cases the Recommendation covering the requirements for the item under
  1014. test shall also specify the requirements for such d.c.\ line current
  1015. treatment.
  1016. .RT
  1017. .sp 2P
  1018. .LP
  1019.     \fBReferences\fR 
  1020. .sp 1P
  1021. .RT
  1022. .LP
  1023. [1]
  1024.     CCITT Recommendation \fITransmission aspects of unbalance about earth\fR 
  1025. Vol.\ III, Rec.\ G.117.
  1026. .LP
  1027. [2]
  1028.      CCITT Recommendation \fITransmission characteristics of an international\fR 
  1029. \fIanalogue exchange\fR Vol.\ VI, Rec.\ Q.45. 
  1030. .LP
  1031. .rs
  1032. .sp 31P
  1033. .ad r
  1034. Blanc
  1035. .ad b
  1036. .RT
  1037. .LP
  1038. .bp
  1039. .sp 1P
  1040. .ce 1000
  1041. \v'3P'
  1042. SECTION\ 2
  1043. .ce 0
  1044. .sp 1P
  1045. .ce 1000
  1046. \fBMAINTENANCE\ ACCESS\fR \v'1P'
  1047. .ce 0
  1048. .sp 1P
  1049. .sp 2P
  1050. .LP
  1051. \fBRecommendation\ O.11\fR 
  1052. .RT
  1053. .sp 2P
  1054. .sp 1P
  1055. .ce 1000
  1056. \fBMAINTENANCE\ ACCESS\ LINES\fR 
  1057. .EF '%    Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.11''
  1058. .OF '''Fascicle\ IV.4\ \(em\ Rec.\ O.11    %'
  1059. .ce 0
  1060. .sp 1P
  1061. .ce 1000
  1062. \fI(Geneva, 1972; amended at Malaga\(hyTorremolinos, 1984,\fR \fIand at 
  1063. Melbourne, 1988)\fR 
  1064. .sp 9p
  1065. .RT
  1066. .ce 0
  1067. .sp 1P
  1068. .LP
  1069. \fB1\fR     \fBGeneral\fR 
  1070. .sp 1P
  1071. .RT
  1072. .sp 1P
  1073. .LP
  1074. 1.1
  1075.     \fIIntroduction\fR 
  1076. .sp 9p
  1077. .RT
  1078. .PP
  1079. In order to more effectively carry out manual and automatic
  1080. maintenance of international circuits in an automatic telephone network, the
  1081. following international maintenance access lines are recommended:
  1082. .RT
  1083. .LP
  1084.     a)
  1085.     a balanced quiet termination which initially returns a
  1086. \(em10\ dBm0 test tone;
  1087. .LP
  1088.     b)
  1089.     a maintenance test position or console access line with
  1090. multiple access codes for both voice communications and/or circuit testing;
  1091. .LP
  1092.     c)
  1093.      a test line to terminate the echo suppressor testing system (ESTS) (see 
  1094. Recommendation\ O.25) responder; 
  1095. .LP
  1096.     d)
  1097.     a loopback test line (analogue or digital);
  1098. .LP
  1099.     e)
  1100.     a test line to terminate the echo canceller test responder.
  1101. .LP
  1102.     f
  1103. )
  1104.     a test line to terminate the signalling system
  1105. functional testing and transmission measuring responder (type\ a) for use 
  1106. with ATME\ No.\ 2 (Recommendation\ O.22); 
  1107. .LP
  1108.     g)
  1109.      a test line which returns a busy flash signal for use with ATME\ No.\ 
  1110. 2 (also referred to as type\ c responding equipment, see 
  1111. Recommendation\ O.22).
  1112. .PP
  1113. These test lines should be provided as modular units to that each Administration 
  1114. may choose the number of each type it wishes to install at a 
  1115. given centre.
  1116. .PP
  1117. The test lines listed in a) to e) above will not provide reliable test 
  1118. results for a circuit which is routed through a circuit multiplication 
  1119. system (CMS) employing interpolation techniques [this includes the case 
  1120. where a 
  1121. circuit is routed over time division multiple access/digital speech
  1122. interpolation (TDMA/DSI) satellite channels] and therefore should not be 
  1123. used in this instance unless a permanent trunk\(hychannel association in 
  1124. both 
  1125. directions of transmission can be made for the duration of the test sequence. 
  1126. The reason for this is that without such a trunk\(hychannel association, 
  1127. circuit continuity may not be maintained within the CMS in the absence 
  1128. of a signal and during very low signal level conditions. 
  1129. .bp
  1130. .RT
  1131. .sp 1P
  1132. .LP
  1133. 1.2
  1134.     \fIQuiet termination test line\fR 
  1135. .sp 9p
  1136. .RT
  1137. .PP
  1138. The quiet termination test line is a dialable test line that
  1139. initially returns a nominal 1020\ Hz
  1140. .FS
  1141. For further information about the
  1142. choice of the test reference frequency refer to Recommendation\ O.6.
  1143. .FE
  1144. \(em10\ dBm0 tone for 13 to 15\ seconds. After the initial tone period, 
  1145. the test 
  1146. line should present a balanced 600\(hyohm termination to simulate the nominal
  1147. exchange impedance. This quiet termination should remain connected until the
  1148. calling party disconnects. This dialable test line is intended to allow 
  1149. one\(hyman manual 1\(hyway loss, 1\(hyway noise (or noise with tone) measurements 
  1150. and impulsive noise checks on any circuit from the distant switching centre. 
  1151. .RT
  1152. .sp 1P
  1153. .LP
  1154. 1.3
  1155.     \fITest and/or communications access line\fR 
  1156. .sp 9p
  1157. .RT
  1158. .PP
  1159. The test and/or communications access line is a dialable access
  1160. line intended to be located at the circuit maintenance test position or test
  1161. console location associated with the international switching centres. These
  1162. access lines are expected to be used for voice communications between the
  1163. circuit maintenance personnel at the appropriate maintenance elements and 
  1164. as a test access point to make a variety of manual transmission tests. 
  1165. These access lines are potential facilities as a fault report point (circuit) 
  1166. or fault 
  1167. report point (network) and/or testing point (transmission).
  1168. .PP
  1169. Separate access codes will be allocated for each of the access line
  1170. types described below. This is to ensure that if an Administration wishes to
  1171. separate the various maintenance functions (i.e.\ transmission testing,
  1172. switching testing and fault reports) it can do so. These allocations should
  1173. not, however, stop those Administrations that wish to combine one or more of
  1174. the functions, using a single access code.
  1175. .RT
  1176. .sp 1P
  1177. .LP
  1178. 1.3.1
  1179.     \fITransmission access test lines\fR 
  1180. .sp 9p
  1181. .RT
  1182. .PP
  1183. The transmission access test line is a dialable test line intended to be 
  1184. located at the circuit maintenance test position or test console location 
  1185. associated with the international switching centres. These test lines are 
  1186. expected to be used as a test access point to make a variety of manual
  1187. transmission tests. They may also be used for voice communication purposes
  1188. associated with the circuit testing.
  1189. .PP
  1190. The proposed dialling plan for these test lines enables a particular test 
  1191. position or console to be selected when the distant switching centre is 
  1192. equipped for this type of dialling access. If the normal test position 
  1193. number (access code) is busy, it is expected that the call should route 
  1194. to an idle 
  1195. test position number via a hunting group. Generally, the allocation of 
  1196. access codes should allow the digits\ 21 (see \(sc\ 2.4.2) to cause the 
  1197. incoming test line call to route to the test position or maintenance console 
  1198. normally assigned to the particular circuit group over which the incoming 
  1199. call originated. Then the use of digits\ 22 to\ 29 (non CCITT\ No.\ 6 signalling) 
  1200. would allow the 
  1201. maintenance personnel to make a test line call to a specific test position 
  1202. or maintenance console at the distant location. This will allow both flexibility 
  1203. in assigning the test positions and consoles, and may also relieve the 
  1204. need for all test positions or consoles to be equipped with the same test 
  1205. equipment.
  1206. .RT
  1207. .sp 1P
  1208. .LP
  1209. 1.3.2
  1210.     \fIOther test and/or communication lines\fR 
  1211. .sp 9p
  1212. .RT
  1213. .PP
  1214. A requirement exists for the provision of lines for manual
  1215. switching and signalling tests and for the provision of facilities for 
  1216. a fault report point (circuit) or a fault report point (network). Codes 
  1217. will be 
  1218. allocated to these lines when the requirements are fully defined.
  1219. .RT
  1220. .sp 1P
  1221. .LP
  1222. 1.4
  1223.     \fIEcho suppressor test line\fR 
  1224. .sp 9p
  1225. .RT
  1226. .PP
  1227. The echo suppressor test line is a dialable 4\(hywire test line
  1228. intended to terminate the echo suppressor testing system (ESTS) (see
  1229. Recommendation\ O.25) responder on an international switching centre. This 
  1230. test line will allow the maintenance personnel at the distant switching 
  1231. centre using the ESTS director equipment to make one\(hyman semi\(hyautomatic 
  1232. echo suppressor 
  1233. tests on the circuits between the two centres.
  1234. .bp
  1235. .RT
  1236. .sp 2P
  1237. .LP
  1238. 1.5
  1239.     \fILoopback test line\fR 
  1240. .sp 1P
  1241. .RT
  1242. .sp 1P
  1243. .LP
  1244. 1.5.1
  1245.     \fIAnalogue loopback test line\fR 
  1246. .sp 9p
  1247. .RT
  1248. .PP
  1249. The loopback test line is a dialable 4\(hywire test line that
  1250. initially returns a nominal 1020\ Hz \(em10\ dBm0 tone for 13 to 15\ seconds. 
  1251. After the initial tone period, the test line should present a balanced 
  1252. 600\ ohm 
  1253. termination to the \*QRETURN\*U direction for the next 13 to 15\ seconds. 
  1254. The \*QGO\*U direction should also be terminated in a 600\(hyohm balanced 
  1255. termination during 
  1256. both these first two intervals.
  1257. .PP
  1258. After the second interval, the 600\(hyohm terminations should be
  1259. disconnected. Finally, the \*QGO\*U and the \*QRETURN\*U directions should 
  1260. be connected (looped around) in the test responder at the correct level 
  1261. until released by 
  1262. the calling station.
  1263. .PP
  1264. The intent of this test facility is to provide a one\(hyman manual means 
  1265. of performing fast transmission tests (level and noise) in both directions. 
  1266. It will also allow seizure and rapid testing by an automatic device at 
  1267. the calling station. 
  1268. .RT
  1269. .sp 1P
  1270. .LP
  1271. 1.5.2
  1272.     \fIDigital loopback test line\fR 
  1273. .sp 9p
  1274. .RT
  1275. .PP
  1276. The digital loopback test line provides a dialable 4\(hywire test line 
  1277. capability intended both for use in measuring the error performance of 
  1278. international digital circuits and as a quick method of verifying the
  1279. continuity of wholly digital, non\(hyPCM encoded and mixed analogue/digital
  1280. circuits. It consists of circuitry that accepts and loops back on a digital
  1281. basis the signal from a circuit. The test signal may be any arbitrary digital 
  1282. test pattern or analogue test signal. 
  1283. .PP
  1284. Once the tester has accessed the test line at a remote location, the tester 
  1285. may transmit the desired analogue test signals or digital test patterns. 
  1286. The tester may examine the returning signal for the received power (or 
  1287. continuity) of the analogue test signals or the error performance (or
  1288. continuity) of the digital test patterns.
  1289. .PP
  1290. The proposed dialling plan for this test line enables a particular
  1291. line to be selected when the distant switching centre is equipped for this 
  1292. type of dialling access. If the normal test line number (access code) is 
  1293. busy, it is expected that the call should route to a busy indication. 
  1294. .RT
  1295. .sp 1P
  1296. .LP
  1297. 1.6
  1298.     \fIEcho canceller test line\fR 
  1299. .sp 9p
  1300. .RT
  1301. .PP
  1302. The echo canceller test line is a dialable 4\(hywire test line
  1303. intended to terminate the echo canceller test responder.
  1304. .PP
  1305. This test facility will allow maintenance personnel at the originating 
  1306. switching centre to make tests of the echo canceller(s) on the circuit 
  1307. under 
  1308. test. Whether the test will be made on both echo cancellers or just the echo
  1309. canceller at the responder end of the circuit under test will depend on the
  1310. type of directing equipment being used.
  1311. .RT
  1312. .sp 1P
  1313. .LP
  1314. 1.7
  1315.     \fIATME No. 2 test lines\fR 
  1316. .sp 9p
  1317. .RT
  1318. .PP
  1319. The ATME No. 2 test lines are dialable 4\(hywire test lines intended to 
  1320. terminate the ATME\ No.\ 2 responders (see Recommendation\ O.22). The 
  1321. responding equipment is available in two forms:
  1322. .RT
  1323. .LP
  1324.     a)
  1325.     a signalling system functional testing and transmission
  1326. measuring device (type\ \fIa\fR );
  1327. .LP
  1328.     b)
  1329.     a signalling system function testing device
  1330. (type \fIb)\fR .
  1331. .PP
  1332. The ATME No. 2 equipment, consisting of directing equipment at the outgoing 
  1333. end and responding equipment at the incoming end, is intended to make automatic 
  1334. transmission measurements and signalling system functional tests on all 
  1335. categories of international circuits terminating in exchange with 4\(hywire 
  1336. switching.
  1337. .sp 1P
  1338. .LP
  1339. 1.8
  1340.     \fIBusy flash signal test line\fR 
  1341. .sp 9p
  1342. .RT
  1343. .PP
  1344. The busy flash test line is a dialable 4\(hywire test line intended
  1345. for use with the ATME\ No.\ 2 directing equipment (see Recommendation\ 
  1346. O.22). This test line, which is also referred to as type\ \fIc\fR responding 
  1347. equipment in 
  1348. Recommendation\ O.22, is required in cases when the signalling system used on
  1349. .PP
  1350. the circuits to be tested provides a busy flash signal. This test line
  1351. functionality may be provided within the exchange equipment or by separate
  1352. responding equipment.
  1353. .bp
  1354. .RT
  1355. .sp 2P
  1356. .LP
  1357. \fB2\fR     \fBMethod of access\fR 
  1358. .sp 1P
  1359. .RT
  1360. .PP
  1361. 2.1
  1362. In general, access arrangements should conform to the
  1363. Recommendation\ M.565\ [1].
  1364. .sp 9p
  1365. .RT
  1366. .PP
  1367. 2.2
  1368. Access to the test lines at the incoming international exchange
  1369. will be gained via the normal exchange switching equipment on a 4\(hywire 
  1370. basis on all incoming and both\(hyway circuits. 
  1371. .PP
  1372. 2.3
  1373. The wiring loss build\(hyout arrangements for the test lines should conform 
  1374. to the Recommendation\ M.565. 
  1375. .sp 2P
  1376. .LP
  1377. 2.4
  1378.     \fIAddress information\fR 
  1379. .sp 1P
  1380. .RT
  1381. .sp 1P
  1382. .LP
  1383. 2.4.1
  1384.     \fIAddress information sequence\fR 
  1385. .sp 9p
  1386. .RT
  1387. .PP
  1388. The following address information will be used to gain access to
  1389. the maintenance access lines at the incoming international exchange:
  1390. .RT
  1391. .LP
  1392.     i)
  1393.     \fICCITT Signalling System No. 4\fR 
  1394. .LP
  1395.     a)
  1396.     terminal seizing signal,
  1397. .LP
  1398.     b)
  1399.     code 13,
  1400. .LP
  1401.     c)
  1402.     code 12,
  1403. .LP
  1404.     d)
  1405.     digit 0,
  1406. .LP
  1407.     e)
  1408.     two digits associated with the particular
  1409. international test line type to be accessed (see \(sc\ 2.4.2 below),
  1410. .LP
  1411.     f)
  1412.     code 15.
  1413. .LP
  1414.     ii)
  1415.     \fICCITT Signalling System No. 5\fR 
  1416. .LP
  1417.     a)
  1418.     KP1,
  1419. .LP
  1420.     b)
  1421.     digit 7 (non\(hyallocated language digit),
  1422. .LP
  1423.     c)
  1424.     code 12,
  1425. .LP
  1426.     d)
  1427.     digit 0,
  1428. .LP
  1429.     e)
  1430.     two digits associated with the particular
  1431. international test line type to be accessed (see \(sc\ 2.4.2 below),
  1432. .LP
  1433.     f)
  1434.     ST.
  1435. .LP
  1436.     iii)
  1437.     \fICCITT Signalling System No. 6\fR 
  1438. .LP
  1439.     The initial address message format for access to testing
  1440. devices is given in Recommendations\ Q.258\ [2] and Q.259\ [3]. The X\ digit
  1441. allocation should be as follows:
  1442. .LP
  1443.     a)
  1444.     1 (ATME No. 2 responding equipment type \fIa\fR for
  1445. signalling tests and transmission measurements),
  1446. .LP
  1447.     b)
  1448.     2 (ATME No. 2 responding equipment type \fIb\fR for
  1449. signalling tests only),
  1450. .LP
  1451.     c)
  1452.     3 (quiet termination test line),
  1453. .LP
  1454.     d)
  1455.     4 (echo suppressor test line),
  1456. .LP
  1457.     e)
  1458.     5 (loopback test line),
  1459. .LP
  1460.     f)
  1461.     6, 7 and 8 (transmission access test line). (See
  1462. Note),
  1463. .LP
  1464.     g)
  1465.     9 (echo canceller test line),
  1466. .LP
  1467.     h)
  1468.     10 (digital loopback test line).
  1469. .LP
  1470.      \fINote\fR \ \(em\ The allocation of the X digit is under the responsibility 
  1471. of Study Group\ XI. In Signalling System No. 6, the bits of the access 
  1472. codes 
  1473. (bit pattern) sent on the line need not be identical with the actual access
  1474. code number used by the maintenance staff. As Signalling System\ No.\ 6 will
  1475. mainly be used together with SPC exchanges, it will be possible to translate
  1476. any access code into an appropriate bit pattern.
  1477. .LP
  1478.     iv)
  1479.     \fICCITT Signalling System No. 7\fR 
  1480. .LP
  1481.     The initial address message format for access to testing
  1482. devices is given in Recommendation\ Q.722\ [4]. The two digits associated with
  1483. the particular international test line to be accessed are given in \(sc\ 2.4.2.
  1484. .LP
  1485.     v)
  1486.     \fICCITT Signalling System R1\fR 
  1487. .LP
  1488.     a)
  1489.     KP,
  1490. .LP
  1491.     b)
  1492.     digits to be agreed upon between the Administrations   concerned,
  1493. .LP
  1494.     c)
  1495.     ST.
  1496. .bp
  1497. .LP
  1498.     vi)
  1499.     \fICCITT Signalling System R2\fR 
  1500. .LP
  1501.     a)
  1502.     test call indicator,
  1503. .LP
  1504.     b)
  1505.     code I\(hy13,
  1506. .LP
  1507.     c)
  1508.     two digits associated with the particular
  1509. international test line type to be accessed (see \(sc\ 2.4.2 below),
  1510. .LP
  1511.     d)
  1512.     code I\(hy15 (on request).
  1513. .sp 1P
  1514. .LP
  1515. 2.4.2
  1516.     \fITest line codes for CCITT Signalling Systems No. 4, 5, 7\fR 
  1517. \fIand R2\fR \v'3p'
  1518. .sp 9p
  1519. .RT
  1520. .LP
  1521.     i)
  1522.     ATME No. 2 responding equipment type a
  1523. \ \  | 1
  1524. .LP
  1525.     ii)
  1526.     ATME No. 2 responding equipment type b
  1527. \ \  | 2
  1528. .LP
  1529.     iii)
  1530.     Busy flash signal
  1531. \ \  | 3
  1532. .LP
  1533.     iv)
  1534.     quiet termination
  1535. \ \  | 4
  1536. .LP
  1537.     v)
  1538.     echo suppressor
  1539. \ \  | 5
  1540. .LP
  1541.     vi)
  1542.     analogue loopback
  1543. \ \  | 6
  1544. .LP
  1545.     vii)
  1546.     digital loopback
  1547. \ \  | 8
  1548. .LP
  1549.     viii)
  1550.     multiple address capability for transmission access
  1551. test line
  1552. \ 21\(hy29
  1553. .LP
  1554.     ix)
  1555.     echo canceller test line
  1556. \ \  | 7
  1557. .sp 2P
  1558. .LP
  1559. \fB3\fR     \fBSpecifications for the test line apparatus\fR 
  1560. .sp 1P
  1561. .RT
  1562. .PP
  1563. The following specifications apply to all test line types unless
  1564. otherwise noted and apply over the range of climatic conditions specified in
  1565. Recommendation\ O.3.
  1566. .RT
  1567. .sp 1P
  1568. .LP
  1569. 3.1
  1570.     \fITone source characteristics (quiet termination and loopback\fR 
  1571. \fItest lines)\fR \v'3p'
  1572. .sp 9p
  1573. .RT
  1574. .LP
  1575.     a)
  1576.      The nominal tone source frequency should fall within 1004 to 1020 Hz. 
  1577. The tone source frequency including tone source stability and aging 
  1578. should remain within 1002 to 1025\ Hz.
  1579. .LP
  1580.     b)
  1581.     Purity of output: ratio of total output to unwanted signal   at least 50\ dB.
  1582. .LP
  1583.     c)
  1584.     Long\(hyterm level stability: \(+- | .03 dB.
  1585. .sp 1P
  1586. .LP
  1587. 3.2
  1588.     \fITransmitted level and timing intervals (quiet termination\fR 
  1589. \fIand loopback test lines)\fR \v'3p'
  1590. .sp 9p
  1591. .RT
  1592. .LP
  1593.     a)
  1594.     The test tone level to be transmitted should be \(em10 dBm0
  1595. \(+- | .1\ dB.
  1596. .LP
  1597.     b)
  1598.      Tone interval for quiet termination test line: 14 s \(+-\ 1.0 s. Tone 
  1599. and quiet termination intervals for the loopback test line: 14\ s 
  1600. \(+- | .0\ s.
  1601. .sp 1P
  1602. .LP
  1603. 3.3
  1604.     \fIImpedance\fR \v'3p'
  1605. .sp 9p
  1606. .RT
  1607. .LP
  1608.     a)
  1609.     600 ohms, balanced.
  1610. .LP
  1611.     b)
  1612.     For all cases, longitudinal conversion loss (see
  1613. Figure\ 1/O.9): at least 46\ dB between 300 and 3400 | z increasing below 
  1614. 300\ Hz to at least 60\ dB at 50\ Hz. 
  1615. .sp 1P
  1616. .LP
  1617. 3.4
  1618.     \fIReturn loss\fR 
  1619. .sp 9p
  1620. .RT
  1621. .PP
  1622. At least 46 dB at 1020 Hz, and at least 30 dB between 300 and
  1623. 3400\ Hz.
  1624. .RT
  1625. .sp 1P
  1626. .LP
  1627. 3.5
  1628.     \fIFrequency response\fR \v'3p'
  1629. .sp 9p
  1630. .RT
  1631. .LP
  1632.     a)
  1633.     \(+- |  dB from 300 to 3000 Hz (quiet termination, echo
  1634. suppressor, echo canceller and loopback test lines).
  1635. .LP
  1636.     b)
  1637.     \(+- | .5 dB from 300 to 3000 Hz (transmission access test
  1638. line).
  1639. .bp
  1640. .sp 1P
  1641. .LP
  1642. 3.6
  1643.     \fILoopback test line level adjustment\fR 
  1644. .sp 9p
  1645. .RT
  1646. .PP
  1647. The loopback test line equipment shall provide the proper buildout (loss 
  1648. or gain) in the loopback measurement path to adjust its level to within 
  1649. \(+- | .1\ dB of the required nominal value. The required nominal value 
  1650. should be 
  1651. determined using Recommendation\ M.560\ [5] and the reference level points at
  1652. which the loopback test line is employed.
  1653. .RT
  1654. .sp 1P
  1655. .LP
  1656. 3.7
  1657.     \fIDigital loopback test\fR 
  1658. .sp 9p
  1659. .RT
  1660. .PP
  1661. The digital loopback test line provides a dialable, 4\(hywire test
  1662. line capability; this type of test line accepts and loops back received 
  1663. octets from a digital circuit. The octets when looped back, are retransmitted 
  1664. so that the positions of the bits within the octet are preserved; that 
  1665. is, the most 
  1666. significant bit of the retransmitted octet corresponds to the most significant 
  1667. bit of the received octet, and so forth. 
  1668. .PP
  1669. The loopbacks may be integrated into the switching network of the
  1670. digital switching machine, or may be provided in a stand\(hyalone mode, 
  1671. having an external 4\(hywire 64\ kbit/s appearance on the switching machine, 
  1672. similar to 
  1673. existing test lines.
  1674. .RT
  1675. .sp 2P
  1676. .LP
  1677. \fB4\fR     \fBSignalling system test line test sequence\fR 
  1678. .sp 1P
  1679. .RT
  1680. .sp 1P
  1681. .LP
  1682. 4.1
  1683.     \fICircuit seizure\fR 
  1684. .sp 9p
  1685. .RT
  1686. .PP
  1687. When an outgoing circuit is to be seized and connected at the
  1688. distant end to one of the international test lines, the appropriate address
  1689. information is transmitted in accordance with the specification for the
  1690. signalling system in use (see \(sc\ 2.4).
  1691. .RT
  1692. .sp 1P
  1693. .LP
  1694. 4.2
  1695.     \fITest line answer\fR 
  1696. .sp 9p
  1697. .RT
  1698. .PP
  1699. When access is gained to the test line equipment, the answer signal (answer, 
  1700. no charge if Signalling System\ No.\ 6) will be transmitted. If the test 
  1701. line is occupied, a busy indication should be returned to the originating 
  1702. end in accordance with the normal signalling for the circuit and for the 
  1703. address 
  1704. concerned.
  1705. .RT
  1706. .sp 1P
  1707. .LP
  1708. 4.3
  1709.     \fITest line not equipped\fR 
  1710. .sp 9p
  1711. .RT
  1712. .PP
  1713. When a test line call is received at a switching centre not
  1714. equipped to handle that type of test call, the called switching centre 
  1715. should respond with the standard \*Qunallocated number\*U signal where 
  1716. available for the signalling system employed. 
  1717. .RT
  1718. .sp 2P
  1719. .LP
  1720.     \fBReferences\fR 
  1721. .sp 1P
  1722. .RT
  1723. .LP
  1724. [1]
  1725.     CCITT Recommendation \fIAccess points for international telephone\fR 
  1726. \fIcircuits\fR , Vol.\ IV, Rec.\ M.565.
  1727. .LP
  1728. [2]
  1729.     CCITT Recommendation \fITelephone signals\fR , Vol. VI, Rec. Q.258.
  1730. .LP
  1731. [3]
  1732.     CCITT Recommendation \fISignalling\(hysystem\(hycontrol signals\fR ,
  1733. Vol.\ VI. Rec.\ Q.259.
  1734. .LP
  1735. [4]
  1736.     CCITT Recommendation \fIGeneral function of telephone messages\fR 
  1737. \fIand signals\fR , Vol.\ VI, Rec.\ Q.722.
  1738. .LP
  1739. [5]
  1740.      CCITT Recommendation \fIInternational telephone circuits \(em principles,\fR 
  1741. \fIdefinitions and relative transmission levels\fR , Vol.\ IV, Rec.\ M.560. 
  1742. .LP
  1743. .rs
  1744. .sp 7P
  1745. .ad r
  1746. Blanc
  1747. .ad b
  1748. .RT
  1749. .LP
  1750. .bp
  1751.